测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力
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PCT高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。
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涂料测试耐紫外线光照老化试验箱厂家 【仪器用途】 耐紫外线光照老化试验箱主要用模仿阳光雨露等人工光源的老化试验箱。本产品采用类似阳光中ＵV段光谱的荧光紫外灯，并结合控温等裝置,同時通过紫外光与湿气之間的協同作用，使得材料单一耐光能力減弱或
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UV紫外线老化试验箱灯管型号 一、UV紫外线老化试验箱技术规格： 型号：ZH-ZW-225 1、内部尺寸：600500750mm(长*宽*高) 2、外形尺寸:8507001480mm(长*宽*高) 3、温度范围：RT+10℃～70℃ 4、湿度范围：95%R.H 5、温度波动度：0.5℃ 6、温度均匀度：2℃ 7、湿
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